同軸光，在機器視覺中是一類應用很廣泛的光源。同軸光常用于高反光物體表面檢測，比如芯片及硅片表面破損檢測，LED外觀缺陷檢測等。從作用上講，同軸光可以消除物體表面上不平整造成的陰影，均勻照射到物體表面，反射回相機，從而采集出一幅均勻性好，對比度高的圖片。然而，在實際應用中，我們經常發現視野做得比較小（鏡頭放大倍率2倍或2倍以上）的時候，相機采集的圖片模糊、鏡頭完全對焦不上的現象。針對這種現象，CST技術團隊找到了一個完善的解決方案，其原理是通過優化同軸光分光鏡的光學性能，改善光源內部的透射、反射與折射參數，達到了同軸光在小視野高清晰成像的效果。

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